本公開實(shí)施例提供的用于
電化學(xué)發(fā)光檢測的干擾處理方法及系統(tǒng),基于在電化學(xué)發(fā)光檢測進(jìn)程中獲取到的具有環(huán)境干擾影響的環(huán)境干擾溯源信息,獲得多個待進(jìn)行干擾處理的干擾環(huán)境源信息,確定所述待進(jìn)行干擾處理的干擾環(huán)境源信息對應(yīng)的干擾傾向性特征信息;當(dāng)所述干擾傾向性特征信息具有干擾特征支持度時,確定與所述多個待進(jìn)行干擾處理的干擾環(huán)境源信息對應(yīng)的可能的干擾屬性字段,以基于所述可能的干擾屬性字段以及所述待進(jìn)行干擾處理的干擾環(huán)境源信息,調(diào)取相應(yīng)的干擾處理策略對所述待進(jìn)行干擾處理的干擾環(huán)境源信息進(jìn)行抗干擾處理。如此,可對具有環(huán)境干擾影響的環(huán)境干擾溯源信息的干擾狀態(tài)進(jìn)行抗干擾處理,從而提高電化學(xué)發(fā)光檢測的可靠性。
聲明:
“用于電化學(xué)發(fā)光檢測的干擾處理方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)