本發(fā)明公開了一種基于磁微粒的微流控化學發(fā)光檢測系統(tǒng),包括底盤和上層
芯片;所述上層芯片包括位于上層芯片中心的加樣區(qū)和至少一個與所述加樣區(qū)連通的微流控反應檢測通道;所述微流控反應檢測通道為競爭法微流控反應檢測通道或夾心法微流控反應檢測通道;應用時,所述底盤設置于上層芯片的下方,所述底盤對應各微流控反應檢測通道的磁微粒包被區(qū)的位置設有磁鐵,所述磁鐵為永磁鐵或電磁鐵。
聲明:
“基于磁微粒的微流控化學發(fā)光檢測系統(tǒng)及其應用” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)