本申請(qǐng)公開了一種應(yīng)用于
電化學(xué)試條的阻抗測(cè)試方法,電化學(xué)試條包括至少兩個(gè)電極,其中,當(dāng)電化學(xué)試條插入到測(cè)試儀時(shí),由兩個(gè)電極至少可形成一條與待測(cè)樣本不連通的電極連通回路,并且,由兩個(gè)電極至少可形成一條與待測(cè)樣本相連通的樣本連通回路;該方法包括:獲取電極連通回路的阻抗值,并根據(jù)電極連通回路的阻抗值和試條的阻抗標(biāo)定值確定電化學(xué)試條的校正系數(shù);獲取樣本連通回路的阻抗值,并根據(jù)樣本連通回路的阻抗值、校正系數(shù)和阻抗標(biāo)定值確定待測(cè)樣本的目標(biāo)阻抗值。顯然,由于通過此種方法可以將樣本連通回路中電極所具有的電極阻抗值去除,所以,通過該方法就可以避免試條電極在印刷過程中所產(chǎn)生阻抗差異而對(duì)樣本測(cè)試結(jié)果的影響。
聲明:
“應(yīng)用于電化學(xué)試條的阻抗測(cè)試方法及電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)