本發(fā)明涉及改進(jìn)的測(cè)量?jī)x,所述測(cè)量?jī)x使用降低分析物的測(cè)量中干擾化合物影響的方法,更具體來(lái)說(shuō),涉及降低其中測(cè)試條使用兩個(gè)或多個(gè)工作電極的系統(tǒng)中干擾化合物影響的方法。在本發(fā)明中描述了測(cè)量?jī)x,其給第一個(gè)工作電極(12)施加第一個(gè)電位(E1),給第二個(gè)工作電極(14)施加具有相同極性但是比第一個(gè)電位大的第二個(gè)電位(E2)。測(cè)量?jī)x測(cè)量產(chǎn)生的電流,并且使用預(yù)先確定的算法來(lái)校正測(cè)量的電流,以補(bǔ)償樣本中存在的干擾化合物。