一種測(cè)量晶體硅少子壽命的化學(xué)鈍化方法,將經(jīng)過去損傷層處理后的硅片在常溫下用去離子水稀釋39%或49%的高濃度氟化氫溶液漂洗,去除硅片表面的自然氧化物,將硅片放入透明的,耐氟化氫HF,對(duì)電信號(hào)無干擾的塑料袋中,然后在晶體硅前后表面滴幾滴濃度39%或49%的氟化氫HF溶液,再在塑料袋外面將硅片上的氟化氫(HF)溶液均勻抹平,使表面的氟化氫溶液的厚度低于1MM;去除在硅片上殘留的氣泡。用塑料封口機(jī)對(duì)塑料袋密封后,將塑料袋放入測(cè)試設(shè)備的樣品臺(tái)中進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明僅可以達(dá)到對(duì)硅片表面均勻的鈍化效果,使表面復(fù)合速度降低到100CM/S以下。而且成本低,易操作,測(cè)量不費(fèi)時(shí),尤其適用于太陽電池生產(chǎn)和研究單位對(duì)硅片原材料的檢測(cè)和分析。
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“測(cè)量晶體硅體少子壽命的化學(xué)鈍化方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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