本實用新型涉及測量設備領域,提供一種X熒光光譜分析儀,其包括X射線發(fā)生裝置、真空測量室、安裝于上述真空測量室內的多個固定元素道和與各上述固定元素道分別對應設置的探測器,通過對上述探測器施加電壓來進行化學元素的測試,該X熒光光譜分析儀還包括顯示和調節(jié)施加在上述探測器上的電壓的顯示調節(jié)面板(100)。本實用新型的有益效果在于:使得X熒光光譜分析儀的調試和維修更加容易,且能夠提高探測器上的電壓的調節(jié)精度,使操作人員無需反復進行多次的檢測和調節(jié)。
聲明:
“X熒光光譜分析儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)