一種快速、高精度地分析光譜數(shù)據(jù)的方法,包括用于模式識別的線性掃描(LINSCAN)方法和高級峰值檢測方法。這些方法之一或者全部都用于支持檢測和識別化學(xué)物質(zhì)、生物物質(zhì)、放射性物質(zhì)、核物質(zhì)和爆炸物。通過兩種光譜分析方法,可分析多種目標(biāo)的光譜。這兩種方法可以結(jié)合起來進行雙重驗證,相對于單獨采用其中一種方法,可獲得更高的精確度,并減少誤報和漏報。
聲明:
“用于光譜分析的高級模式識別系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)