本發(fā)明涉及一種光學(xué)分析方法,具體涉及一種近紅外光譜分析法。一種近紅外光譜分析法,包括以下步驟:篩選建模樣品;對上述建模樣品進(jìn)行化學(xué)方法測定,作為建模標(biāo)準(zhǔn)值;對上述建模樣品進(jìn)行掃描得到樣品光譜;確定最佳建模模型;驗(yàn)證模型的穩(wěn)定性以及預(yù)測能力,當(dāng)RPD>3時(shí),模型穩(wěn)定性和預(yù)測性良好;在模型穩(wěn)定性和預(yù)測性良好的情況下,通過模型對樣品光譜進(jìn)行預(yù)處理;對經(jīng)過預(yù)處理后的樣品光譜采用分析模型加以分析評價(jià),得到待測樣品的待測成分含量,測得的待測成分含量其值越接近1,預(yù)測含量越接近真值。本發(fā)明提出的一種近紅外光譜分析法,建立的模型穩(wěn)定性以及預(yù)測性能良好,測得的待測成分含量較高,本方法實(shí)用,易于推廣。
聲明:
“近紅外光譜分析法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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