本發(fā)明公開(kāi)了一種針對(duì)器件微放電抑制的多尺度關(guān)聯(lián)分析方法,該方法涉及原子至納米尺度、微米尺度和毫米至厘米尺度三個(gè)尺度,主要包括各個(gè)尺度上的參數(shù)計(jì)算和各尺度間的關(guān)聯(lián)邏輯。原子至納米尺度即材料化學(xué)組分與原子幾何結(jié)構(gòu)層面,表面微觀(guān)結(jié)構(gòu)層面屬于微米尺度,而微波器件層面屬于毫米至厘米尺度。該方法是一種從材料到表面再到器件的關(guān)聯(lián)分析與設(shè)計(jì)方法。而且此關(guān)聯(lián)分析方法成本低、周期短、效率高,為微放電實(shí)驗(yàn)的開(kāi)展節(jié)省了大量的時(shí)間和無(wú)效試錯(cuò)成本。
聲明:
“針對(duì)器件微放電抑制的多尺度關(guān)聯(lián)分析方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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