本發(fā)明公開了一種等離子體固樣分析發(fā)射光譜儀,包括氣路系統(tǒng)、激發(fā)源裝置、固體樣品直接引入裝置(11)、收光裝置及上位機,所述氣路系統(tǒng)連接激發(fā)源裝置,收光裝置與上位機相連接;所述固體樣品直接引入裝置(11)用于放置固體樣品(10),且激發(fā)源裝置能夠釋放等離子體射流(18)至固體樣品(10)上,等離子體射流(18)與固體樣品(10)表面作用時能夠形成發(fā)射光(17)并被收光裝置所接收;克服現(xiàn)有技術(shù)的不足之處,在進行固樣分析時,無需對樣品進行復(fù)雜的消解處理過程,大大降低了操作過程的繁瑣程度;同時,避免了酸、堿等化學(xué)試劑的使用,不會對環(huán)境造成污染。
聲明:
“等離子體固樣分析發(fā)射光譜儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)