本申請(qǐng)公開了一種樣品制備方法、樣品檢測(cè)方法及樣品檢測(cè)系統(tǒng)。該樣品制備方法包括:制備初級(jí)結(jié)構(gòu),初級(jí)結(jié)構(gòu)包括待檢測(cè)薄膜以及覆蓋在待檢測(cè)薄膜的雙側(cè)表面的保護(hù)層;在反應(yīng)室中,采用反應(yīng)物去除保護(hù)層,以獲得待檢測(cè)結(jié)構(gòu);以及將待檢測(cè)結(jié)構(gòu)從反應(yīng)室轉(zhuǎn)移至用于測(cè)試待檢測(cè)結(jié)構(gòu)的樣品分析室,樣品分析室中不包括與待檢測(cè)結(jié)構(gòu)發(fā)生化學(xué)反應(yīng)的物質(zhì)。該樣品制備方法有利于提高樣品質(zhì)量,從而有利于樣品測(cè)試。
聲明:
“樣品制備方法、樣品檢測(cè)方法及樣品檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)