本發(fā)明涉及一種電子集成電路,所述電子集成電路包括固定于襯底(3)上的電子芯片(1),其組件受外殼保護(hù),所述電子芯片設(shè)置有與布置在所述襯底上的連接焊盤(pán)(6)連接的輸入/輸出接線柱(2),其中所述電路還設(shè)置有至少一個(gè)侵入檢測(cè)裝置(9、10),所述至少一個(gè)侵入檢測(cè)裝置(9、10)能夠檢測(cè)所述外殼內(nèi)部的機(jī)械和/或化學(xué)侵入和/或接近所述集成電路的敏感區(qū)的嘗試,其特征在于,所述侵入檢測(cè)裝置(9、10)包括檢測(cè)電路(9),所述檢測(cè)電路(9)被嵌入在襯底(3)中和/或放置在襯底(3)上并且被布置成在所述集成電路的一些敏感區(qū)緊鄰的附近經(jīng)過(guò),從而對(duì)接近任何所述敏感區(qū)的任何嘗試都造成所述檢測(cè)電路(9)的電狀態(tài)(閉合/斷開(kāi))的變化。