本發(fā)明涉及一種基于紫外可見漫反射光譜及化學模式識別的當歸及其相似品的鑒別方法。具體步驟為:收集一定數目的當歸及其相似品,采集樣品的紫外可見光譜;將樣品劃分為訓練集和預測集;分別對HCA的類內及類間距離、PLS?DA的因子數、ANN的尺度化方法和隱含層節(jié)點數、ELM的激勵函數和隱含層節(jié)點數進行優(yōu)化;在最佳參數下,考察四種化學模式識別方法對預測集中樣品的預測正確率,得到最佳的化學模式識別方法。本發(fā)明基于紫外可見漫反射光譜及化學模式識別,檢測迅速,綠色無損。本發(fā)明適用于當歸及其相似品的鑒別。
聲明:
“基于紫外可見漫反射光譜及化學模式識別的當歸及其相似品的鑒別方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)