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基于掃描探針技術與電化學發(fā)光聯(lián)用的超分辨補償方法

944   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網  
2023-03-19 07:00:44
本發(fā)明公開了基于掃描探針技術與電化學發(fā)光聯(lián)用的超分辨補償方法,對SECM?ECL圖像矩陣根據各電位進行整理,添加時間維度,組成SECM?ECL三維數組,對該數組中感興趣區(qū)域進行整理,取交集以獲取最大感興趣區(qū)域,以區(qū)分整體感興趣區(qū)域與整體非感興趣區(qū)域,采用插值算法對各感興趣區(qū)域進行預先放大以提高邊緣,并保證所有輸入圖像具有相同輸入尺寸,將處理后的SECM?ECL輸出組作為深度學習網絡輸入。該基于掃描探針技術與電化學發(fā)光聯(lián)用的超分辨補償方法,通過感興趣區(qū)域非感興趣區(qū)域實現基于時間及通道的互相細節(jié)增強,通過超分辨對整體檢測數據基于樣本的超分辨具有足夠好的時間、空間分辨率與信噪比。
聲明:
“基于掃描探針技術與電化學發(fā)光聯(lián)用的超分辨補償方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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