本發(fā)明提供了一種納米級氧化膜厚度的
電化學(xué)定量表征方法,該方法包括:多層薄膜樣品的制備:將待測樣品去除油污及雜質(zhì),在樣品表面鍍一層金屬薄膜;電化學(xué)實驗:用恒電位儀,將樣品作為三電極系統(tǒng)中的工作電極,飽和KCl甘汞電極作為參比電極,Pt作為對電極,在含NaCl?0.1~10mol/L的溶液體系中,使用恒電流法,將電流密度控制在0.1~100mA/cm2的范圍內(nèi),記下電位隨時間的變化,直至腐蝕電位趨于穩(wěn)定;定量表征:在材料、電流密度及電解液濃度不變的情況下,標定腐蝕速度,從而得到氧化膜的厚度。本發(fā)明的方法對納米級氧化膜非常靈敏,結(jié)果可靠性高;取樣面積大,獲得的數(shù)據(jù)有代表性,可重復(fù)性高。
聲明:
“納米級氧化膜的電化學(xué)定量表征方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)