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基于側拋式全光纖F-P結構的壓力檢測方法

1040   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網  
2023-03-19 07:02:28
本發(fā)明公開了一種基于側拋式全光纖F?P結構的壓力檢測方法,包括:利用化學腐蝕法腐蝕單模光纖一端,得到F?P腔;使用側面拋磨系統(tǒng)在F?P腔兩側進行拋磨,得到側拋式全光纖F?P結構;將側拋式全光纖F?P結構與環(huán)形器、寬帶光源、光譜分析儀組成壓力測試系統(tǒng);將側拋式全光纖F?P結構拋磨一端置于待測環(huán)境中,F(xiàn)?P腔隨外界壓力變化產生軸向形變,根據(jù)壓力、腔長、干涉光譜的變化關系,分析光譜分析儀采集的干涉光譜即可得到壓力的大小。本發(fā)明壓力檢測方法采用化學腐蝕法制備的F?P腔光滑且對比度、靈敏度高,并通過對F?P腔側面進行拋磨,使得腔體側面變薄,對于氣壓更加敏感,能夠用于臨床醫(yī)學檢測氣壓,尤其是監(jiān)測心臟穩(wěn)定器對心臟吸附得壓力。
聲明:
“基于側拋式全光纖F-P結構的壓力檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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