本發(fā)明提供一種“一種基于適配體?光尋址電位傳感器的重金屬檢測方法”,該方法以陣列式布局的光尋址電位傳感器作為襯底,不同種類的重金屬離子適配體探針固定于各光尋址傳感器上表面,可實(shí)現(xiàn)多種重金屬離子的高靈敏度、高可靠性、高分辨率的重金屬離子檢測,可解決傳統(tǒng)
電化學(xué)型汞電極具有毒性、對環(huán)境的二次污染等問題。
聲明:
“基于適配體-光尋址電位傳感器的重金屬檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)