本發(fā)明為一種用于絕緣體核材料中氧同位素的SIMS測量方法,其過程為:將鈾氧化物微粒轉(zhuǎn)移到石墨碳片上,制備成樣品;對測量過程中需要用到的設(shè)備進行調(diào)試;測量鈾氧化物微粒的氧同位素,并計算18O/16O的比值;校正測量值并計算不確定度;更換標樣并卸載程序。這樣,不需要進行樣品的化學(xué)處理,可直接進行測量,使得分析速度更快、樣品制備簡單、樣品用量也更小;同時SIMS具有微區(qū)分析和深度剖析的能力,可對樣品的不同區(qū)域和不同深度的地方進行氧同位素的測量;SIMS通過接收O-進行測量,不需要轉(zhuǎn)化CO2氣體再測量,減少了中間環(huán)節(jié),減少了最后結(jié)果不確定度的引入因素,能夠滿足核法證學(xué)關(guān)于快速、準確分析的特點。
聲明:
“用于絕緣體核材料中氧同位素的SIMS測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)