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用于測量表面偏聚揮發(fā)量的試樣架及其使用方法

715   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網(wǎng)  
2023-03-19 07:24:12
一種用于測量表面偏聚揮發(fā)量的試樣架及其使用方法。利用感應線圈和熱敏元件相結(jié)合的方式進行原位加熱和溫度控制,采用高純鉑金片收集揮發(fā)溶質(zhì)或雜質(zhì),利用低溫介質(zhì)通入夾持裝置進行冷卻從而有效冷卻鉑金片并冷凝揮發(fā)出的溶質(zhì)或雜質(zhì),借助于分析室內(nèi)的旋轉(zhuǎn)臺使鉑金片處于測試位置,可直接測得揮發(fā)元素的種類、濃度及先后順序。本發(fā)明的試樣架可實現(xiàn)原位加熱和溫度準確控制;可直接利用設備自身的液氮冷卻系統(tǒng)或通入其他低溫介質(zhì);采用的鉑金片自身物理和化學性質(zhì)穩(wěn)定,借助于設備自帶的氬離子清潔功能,可實現(xiàn)鉑金片的反復利用。本發(fā)明試樣架,可用作精度高、超高真空環(huán)境、測量室空間有限的先進儀器設備的測量附件,具有良好的應用前景。
聲明:
“用于測量表面偏聚揮發(fā)量的試樣架及其使用方法” 該技術專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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