本發(fā)明公開了一種實(shí)現(xiàn)納米尺寸大氣細(xì)顆粒物的監(jiān)測方法，包括利用暗場成像技術(shù)獲得大氣細(xì)顆粒物樣品的高信噪比的具有納米精度的暗場圖像；利用光點(diǎn)提取算法，自動(dòng)讀取暗場圖像中顆粒個(gè)數(shù)，獲得測量區(qū)域顆粒濃度；選取暗場圖像中的某一亮點(diǎn)(細(xì)顆粒)，通過對(duì)該顆粒的暗場光譜的測量獲得其散射光譜數(shù)據(jù)；通過對(duì)固定目標(biāo)的散射光譜的分析，獲得該顆粒的尺寸和成分信息，實(shí)現(xiàn)對(duì)納米尺寸大氣顆粒的物理化學(xué)特性的監(jiān)測。本發(fā)明具有納米成像精度和高信噪比，既操作簡單、成本低廉，又可以在實(shí)現(xiàn)大氣細(xì)顆粒物濃度自動(dòng)提取的同時(shí)，獲得納米細(xì)顆粒物的尺寸和成分信息等特點(diǎn)。