一種測量裝置,特別是適用于工業(yè)處理測量技術中對在增加壓力下的封閉處理容器中的物理或化學的被測量變量進行測量的測量裝置,包括:測量探針(103),其具有探針軸(105),特別是圓柱形探針軸;以及固定裝置,其將測量探針(103)貼附在測量點,其中固定裝置包括套筒(107),其至少部分地容納探針軸(105),其中測量探針(103)具有連接到探針軸(105)的固定軸環(huán)(121);固定軸環(huán)(121)被保持特別是形狀互鎖地在可釋放地固定在套筒(107)中的聯(lián)接套管(129)與在套筒(107)內形成的反向支承部(123)之間,其特征在于,在聯(lián)接套管(129)內形成有第一對接表面(133),并且在測量探針(103)上形成有與第一對接表面(133)相對定位的第二對接表面(135)。
聲明:
“包括測量探針和固定裝置的測量裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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