一種利用固體核徑跡探測(cè)器測(cè)量218Po長(zhǎng)時(shí)間平均沉積率的方法及裝置,測(cè)量時(shí),將測(cè)量裝置箱體的底部固定在測(cè)量環(huán)境中室內(nèi)的墻面,地面或天花板頂上,測(cè)量時(shí)間為T(mén),T的值根據(jù)測(cè)量要求為數(shù)天到數(shù)百天。測(cè)量過(guò)程完成后,立即取下第一固體核徑跡探測(cè)器、第二固體核徑跡探測(cè)器和第三固體核徑跡探測(cè)器,并對(duì)其進(jìn)行化學(xué)蝕刻,分別讀取第一固體核徑跡探測(cè)器、第二固體核徑跡探測(cè)器和第三固體核徑跡探測(cè)器上的核徑跡數(shù),并通過(guò)計(jì)算得到218Po的長(zhǎng)時(shí)間平均沉積率。
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“利用固體核徑跡探測(cè)器測(cè)量218Po長(zhǎng)時(shí)間平均沉積率的方法及裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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