一種測(cè)察鋁電解電容器用電極箔微觀形貌的制樣方法,按下述步驟進(jìn)行:第一步驟裁樣、第二步驟電解拋光處理和第三步驟檢測(cè)。采用本發(fā)明可方便、快速、準(zhǔn)確地獲得電極箔微觀形貌的電鏡照片,因此特別適用于電極箔的微觀形貌觀察和檢測(cè),這為研究
電化學(xué)條件與電極箔微觀形貌的聯(lián)系奠定了基礎(chǔ),為研制高比容、低阻抗和高穩(wěn)定性電容器用電極箔提供了保證。
聲明:
“測(cè)察鋁電解電容器用電極箔微觀形貌的制樣方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)