提供一種“組合式光尋址電位傳感器(LAPS)測(cè)試平臺(tái)”,包括主體框架1、光源控制器2、光源陣列插板3、LAPS芯片插板4、電極固定插板5、門(mén)板6,六個(gè)部分。LAPS芯片插板4的設(shè)計(jì),采用了將LAPS芯片與儲(chǔ)液空間合二為一的方法;光源陣列的設(shè)計(jì),采用了將光源與光源控制器分離的方案;測(cè)試平臺(tái)的組合方式,采用了插裝的方式,將光源陣列插板3、LAPS芯片插板4、以及電極固定插板5通過(guò)主體框架1內(nèi)插槽8、9、10,插裝并固定在主體框架1內(nèi)。本實(shí)用新型為L(zhǎng)APS提供液態(tài)電化學(xué)測(cè)試體系,解決了光源陣列與LAPS敏感單元陣列的匹配和對(duì)準(zhǔn)問(wèn)題。并且,當(dāng)LAPS芯片的敏感單元陣列結(jié)構(gòu)發(fā)生變化時(shí),無(wú)須更改測(cè)試平臺(tái)整體結(jié)構(gòu),滿足LAPS對(duì)測(cè)試平臺(tái)靈活性的要求。