本發(fā)明提供了一種鍍錫制程能力測(cè)試方法,包括:使用鉆孔機(jī)鉆不同孔徑的若干通孔和盲孔;使用化學(xué)沉積的方式將所述通孔和盲孔的孔壁金屬化,再使用整板電鍍的方式將孔銅及面銅加厚5?8um;形成線路;在板件上施加電壓,測(cè)試銅層的導(dǎo)通性;計(jì)算通孔的板厚與直徑之比、以及盲孔的直徑與深度之比,選擇通孔中導(dǎo)通的孔的板厚與直徑之比作為錫層通孔的蝕刻能力,選擇盲孔中導(dǎo)通的孔的直徑與深度之比作為錫層盲孔的蝕刻能力。通過上述技術(shù)方案,本發(fā)明可以通過多個(gè)不同孔徑的通孔和盲孔的導(dǎo)通狀況,判斷出錫層的蝕刻能力,克服了現(xiàn)有技術(shù)中通過切片方式測(cè)試時(shí),單節(jié)片取點(diǎn)單一沒有代表性的問題,具有測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠的特點(diǎn)。
聲明:
“鍍錫制程能力測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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