本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試表面局部缺陷腐蝕的內(nèi)嵌式復(fù)合絲束電極系統(tǒng),其技術(shù)方案是:包括電極主體、內(nèi)嵌絲束電極、外絲束電極、測(cè)量系統(tǒng),在電極主體中心區(qū)域設(shè)置有外絲束電極,在外絲束電極的外圍均勻布置多個(gè)參比電極,在外絲束電極的中心位置設(shè)有內(nèi)嵌孔,通過注入環(huán)氧進(jìn)行密封;內(nèi)嵌絲束電極安裝在內(nèi)嵌孔內(nèi),每一根電極通過導(dǎo)線接出,導(dǎo)線上設(shè)有開關(guān),內(nèi)嵌絲束電極與外絲束電極共用參比電極,通過導(dǎo)線連接到測(cè)量系統(tǒng)形成回路。本實(shí)用新型可以通過內(nèi)嵌式絲束電極制備出預(yù)定的表面缺陷,且內(nèi)嵌式表面電極的缺陷尺寸、形狀、材料可自由調(diào)節(jié)和替換,通過測(cè)量系統(tǒng),能夠測(cè)得在材料表面有不同局部形貌缺陷的情況下,不同位置處的
電化學(xué)腐蝕信息。
聲明:
“測(cè)試表面局部缺陷腐蝕的內(nèi)嵌式復(fù)合絲束電極系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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