本發(fā)明提供一種篩選不受補(bǔ)體干擾的單克隆抗體對(duì)的方法，包括以下步驟：S10：獲得陰性樣本混合物；S20：在陰性樣本混合物中加入抗原，獲得檢測(cè)樣本一；S30：對(duì)陰性樣本混合物進(jìn)行加熱，并加入抗原，獲得檢測(cè)樣本二；S40：在檢測(cè)樣本二中加入補(bǔ)體，獲得檢測(cè)樣本三；S50：用待選單克隆抗體對(duì)制備的化學(xué)發(fā)光試劑，對(duì)檢測(cè)樣本一、檢測(cè)樣本二和檢測(cè)樣本三分別進(jìn)行免疫化學(xué)發(fā)光檢測(cè)，獲得檢測(cè)結(jié)果一、檢測(cè)結(jié)果二、檢測(cè)結(jié)果三；S60：根據(jù)檢測(cè)結(jié)果一、檢測(cè)結(jié)果二、檢測(cè)結(jié)果三，獲得不受補(bǔ)體干擾的單克隆抗體對(duì)。本發(fā)明解決了免疫診斷常常受到補(bǔ)體干擾，影響免疫檢測(cè)的準(zhǔn)確性的技術(shù)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了免疫診斷不易受補(bǔ)體干擾，提高免疫診斷準(zhǔn)確性的技術(shù)效果。