硅片表面鈍化方法,涉及太陽能
光伏硅片檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,包括:將清洗后的硅片放入化學(xué)拋光液中,進(jìn)行化學(xué)拋光以去除硅片表面損傷層,其中拋光液的配比為氫氟酸:硝酸=1:3~6;2~5分鐘后從拋光液中取出用去離子水漂洗干凈;將拋光后的硅片放入塑料自封袋中,用滴管吸取配制好的鈍化液滴入裝有硅片的自封袋中,同時(shí)將鈍化液均勻地灘涂在硅片表面,其中鈍化液的配比為高純固體碘:無水酒精=1g:50~100ml;10~20分鐘后放入WT-2000少子壽命測(cè)試儀中進(jìn)行測(cè)試,少子壽命會(huì)有明顯提升。本發(fā)明的有益效果是:解決了硅片少子壽命測(cè)量誤差偏大導(dǎo)致質(zhì)量誤判的問題,硅片表面鈍化可以有效地降低表面少子壽命復(fù)合率,少子壽命提高10~30倍,真實(shí)的反應(yīng)出硅片的質(zhì)量。
聲明:
“硅片表面鈍化方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)