本發(fā)明公開了一種基于等離子體原理的質(zhì)譜源內(nèi)解離方法和裝置，所述方法是將離子化或未離子化的樣品與等離子體持續(xù)接觸1～3分鐘，使樣品發(fā)生解離。本發(fā)明提供的方法和裝置，可以利用等離子體使化合物發(fā)生解離，可以同時得到電荷、自由基以及等離子體化學誘導的碎片離子，所得質(zhì)譜圖碎片離子種類繁多，信息豐富，能全面地反映樣品中化合物的結(jié)構(gòu)信息，可實現(xiàn)化合物的定性分析，甚至還可以實現(xiàn)兩個同分異構(gòu)體的定性鑒定；此外，本發(fā)明所述裝置無需真空環(huán)境，在常壓條件下就能使用，結(jié)構(gòu)簡單，操作簡便，成本低廉，易于實現(xiàn)，可以方便地與常見的大氣壓離子化技術和質(zhì)譜儀聯(lián)用，可有效彌補大氣壓離子化技術用于定性分析的缺陷。
聲明：
“基于等離子體原理的質(zhì)譜源內(nèi)解離方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
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編輯：管理員
來源：中冶有色技術網(wǎng)
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2025年03月21日 ~ 23日 
