本發(fā)明涉及輻照后掃描電鏡試樣制備技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種基于導(dǎo)電屏蔽鑲嵌的輻照后鋯合金掃描電鏡試樣制備方法,包括如下步驟:步驟1、采用切割裝置對(duì)輻照后的鋯合金進(jìn)行切割,獲得小尺寸的輻照后的鋯合金試樣;步驟2、采用加熱裝置對(duì)低熔點(diǎn)、高原子序數(shù)的混合金屬顆粒進(jìn)行加熱,獲得液態(tài)的低熔點(diǎn)合金;步驟3、利用液態(tài)的低熔點(diǎn)合金對(duì)所述鋯合金試樣進(jìn)行鑲嵌并冷凝;步驟4、對(duì)低熔點(diǎn)合金鑲嵌后的所述鋯合金試樣進(jìn)行機(jī)械研磨和機(jī)械拋光,使所述鋯合金試樣呈鏡面光潔;步驟5、對(duì)機(jī)械拋光后的所述鋯合金試樣進(jìn)行化學(xué)蝕刻再進(jìn)行掃描電鏡分析,或直接進(jìn)行掃描電鏡分析。本發(fā)明能夠簡(jiǎn)單、高效的制備輻照后鋯合金掃描電鏡試樣。
聲明:
“基于導(dǎo)電屏蔽鑲嵌的輻照后鋯合金掃描電鏡試樣制備方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)