本發(fā)明涉及基于預(yù)防維修和質(zhì)量損失函數(shù)的VSI EWMA控制圖經(jīng)濟(jì)設(shè)計(jì)方法,有效的提高過(guò)程監(jiān)控效率的同時(shí)降低過(guò)程控制成本;其解決的技術(shù)方案是包括以下步驟:步驟一:建立生產(chǎn)過(guò)程的監(jiān)控系統(tǒng);步驟二:建立以最小化為目標(biāo)的單位時(shí)間成本函數(shù)ECT,即為完整的設(shè)計(jì)模型;步驟三:根據(jù)模型構(gòu)建遺傳算法,采用Matlab語(yǔ)言并結(jié)合煉鋼過(guò)程中某種化學(xué)成分的控制過(guò)程求得模型參數(shù)的最優(yōu)設(shè)計(jì);步驟四:采用正交試驗(yàn)設(shè)計(jì)和回歸分析方法對(duì)模型進(jìn)行靈敏度分析,解釋模型參數(shù)對(duì)目標(biāo)函數(shù)的不同影響;本發(fā)明可以在提高過(guò)程監(jiān)控效率的同時(shí)降低過(guò)程控制成本。
聲明:
“基于預(yù)防維修和質(zhì)量損失函數(shù)的VSI EWMA控制圖經(jīng)濟(jì)設(shè)計(jì)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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