本發(fā)明公開(kāi)了一種中子輻照前鋯合金掃描電鏡試樣預(yù)處理方法,先對(duì)試樣進(jìn)行磨拋再進(jìn)行酸洗,所述磨拋依次包括粗拋和精拋,所述粗拋為試樣在不同顆粒度的砂紙上由粗到細(xì)依次磨制,磨制方式為每更換一次砂紙時(shí),將試樣旋轉(zhuǎn)90°與舊磨痕成垂直方向繼續(xù)磨制,直到舊磨痕完全消失,且新磨痕均勻一致為止。本發(fā)明所述方法通過(guò)對(duì)試樣表面進(jìn)行磨拋和化學(xué)腐蝕(酸洗),可最大程度的減小中子輻照注入面的粗糙度和應(yīng)力層。此外,利用該方法制得的掃描電鏡鋯合金試樣經(jīng)中子輻照后可直接利用掃描電鏡進(jìn)行顯微組織和成分分析,避免輻照后制氧的放射性威脅。
聲明:
“中子輻照前鋯合金掃描電鏡試樣預(yù)處理方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)