本發(fā)明屬于
納米材料技術領域,公開了一種3DTEM與3DAP跨尺度表征通用樣品臺設置有:樣品臺底座;樣品臺底座尾端呈矩形,前端呈燕尾形,與后端呈直角,樣品臺底座尾端開設有圓孔,樣品臺底座前端焊接有外銅管,外銅管前端套設有內(nèi)銅管,外銅管和內(nèi)銅管之間通過摩擦力固定,內(nèi)銅管前端卡接有三維原子探針針狀試樣。本發(fā)明設計巧妙,容易拆卸,操作方便,成本較低,樣品臺可以重復利用,該樣品臺容易與兩種三維原子探針針狀樣品的制備方法結(jié)合起來,制樣和電子顯微分析有效率地聯(lián)系了起來,將三維原子探針的化學成分信息與三維透射電子顯微鏡的微觀組織信息充分結(jié)合,具有較好的適用性,能夠得到更為普遍的應用。
聲明:
“3DTEM與3DAP跨尺度表征通用樣品臺” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)