本發(fā)明屬于分析化學領域,具體涉及一種自動識別散射區(qū)域,去除散射數(shù)據(jù)并填補去除部分的計算方法。包括以下步驟:首先,對于二維的光譜數(shù)據(jù),通過拉曼散射和瑞利散射機理以及其對應的能量判斷散射位置;然后,在一維光譜數(shù)據(jù)的基礎上,通過散射位置和散射強度判斷散射能量的覆蓋范圍,并將無用能量進行剔除;最后,對于去除散射數(shù)據(jù)的區(qū)域進行插值處理,達到去無用除散射并補齊的目的。本發(fā)明可以快速的自動識別出無用散射的位置,不需要人為設定散射能量的寬度,在可接受的誤差范圍內(nèi),最大限度的保留數(shù)據(jù),這大大的提高了去除散射過程中的準確性和實現(xiàn)效率。這為實現(xiàn)大量含散射的光譜數(shù)據(jù)的批量處理提供可能。
聲明:
“熒光光譜無用散射自動去除方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)