本發(fā)明公開一種標定光阱中微粒數(shù)量、尺寸的方法及裝置,利用光阱穩(wěn)定懸浮待測微粒,利用光電探測器收集微粒的散射光信號,多次重復捕獲不同的微粒,記錄每次的散射光光強,統(tǒng)計光功率的光強分布情況;微粒數(shù)量與散射光強存在一一對應關(guān)系,微粒數(shù)量越多,散射光強越大,根據(jù)光強分布情況,獲取光阱捕獲不同數(shù)量的微粒時對應的預期光強,從而對微粒數(shù)量進行標定。本發(fā)明的方法和裝置能夠?qū)崿F(xiàn)原位測量,也無需限制為真空環(huán)境,并且采用了光學非接觸式的方式獲取光阱中捕獲微粒的信息,無需改變微粒的物理和化學特性。
聲明:
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