本發(fā)明公開了一種熔鹽體系中離子遷移數(shù)獲取方法、系統(tǒng)、終端及可讀存儲介質(zhì),所述方法包括:針對待評估的熔鹽體系構(gòu)建其周期性結(jié)構(gòu)模型,再進行分子動力學(xué)模擬得到穩(wěn)定狀態(tài)下離子運動軌跡和穩(wěn)定離子結(jié)構(gòu);再計算出各個離子的位移矩陣和Mulliken電荷分布;基于離子電導(dǎo)率計算理論以及引入各離子對的相關(guān)性系數(shù),并利用各個離子的位移矩陣和Mulliken電荷分布得到所述熔鹽體系中的離子遷移數(shù);其中,利用相關(guān)性系數(shù)修正各個離子的離子電導(dǎo)率。本發(fā)明該方法引入離子對的相關(guān)性系數(shù),得到的離子遷移數(shù)更為準確,且利用分子動力學(xué)模擬來計算熔鹽體系中離子遷移數(shù),無需設(shè)計特定的熔鹽測量儀器以及高溫
電化學(xué)實驗,可以減少實驗成本。
聲明:
“熔鹽體系中離子遷移數(shù)獲取方法、系統(tǒng)、終端及可讀存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)