本發(fā)明提供的是一種高精度超聲無損檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置。超聲探頭組件包括一個(gè)發(fā)射探頭和兩個(gè)接收探頭。發(fā)射探頭發(fā)出的超聲波經(jīng)過楔形塊的折射而入射到機(jī)械結(jié)構(gòu)件內(nèi)部,并在缺陷的邊緣產(chǎn)生衍射波。對(duì)兩個(gè)接收探頭所接收超聲衍射波的檢測(cè)與測(cè)量可以得到傳播時(shí)間tS1和tS2。由三個(gè)的超聲波探頭位置參數(shù)、傳播時(shí)間tS1和tS2所對(duì)應(yīng)的傳播距離TL1與TL2參數(shù)形成了焦距、端點(diǎn)參數(shù)不同的兩個(gè)橢圓。通過橢圓方程組的結(jié)算便可獲得缺陷上端、下端邊緣的坐標(biāo)值,由此可以計(jì)算出缺陷的長(zhǎng)度L、傾斜角α、缺陷深度d幾何參數(shù)。通過探頭組件中安裝的CMOS圖像傳感器給出的(Δx,Δy)位移參數(shù)與缺陷測(cè)量值的數(shù)據(jù)融合,便可以繪制缺陷的高精度三維圖像。