本發(fā)明公開一種基于超聲無(wú)損檢測(cè)的缺陷定位定量檢測(cè)方法，包括以下步驟：在待測(cè)試塊進(jìn)行直線B掃，獲取包括n個(gè)A掃信號(hào)的B掃信號(hào)；將無(wú)缺陷參考信號(hào)和B掃信號(hào)歸一化處理，獲得缺陷回波信號(hào)；從缺陷回波信號(hào)中分別提取每個(gè)A掃信號(hào)中的缺陷縱波回波時(shí)刻；以第一個(gè)掃查位置為原點(diǎn)，掃查方向?yàn)閤正向，待測(cè)試塊內(nèi)部垂直于待測(cè)試塊表面方向?yàn)閥正向，建立坐標(biāo)系；根據(jù)掃查點(diǎn)坐標(biāo)、缺陷縱波回波時(shí)刻以及縱波波速，得到缺陷位置與尺寸。本發(fā)明的結(jié)果可以直接輸出缺陷的位置和尺寸，在坐標(biāo)系中繪制出缺陷形貌，輸出結(jié)果直觀。本發(fā)明在直線B掃的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)之上，即可獲取缺陷尺寸，相較通過(guò)C掃檢測(cè)缺陷的方式，檢測(cè)效率有明顯的提升。