本發(fā)明涉及一種利用超聲波來無損檢測受檢件(100)的方法,包括以下方法步驟:a.將定向超聲波脈沖以入射角β射入受檢件(100)之中,其中以電子方式調(diào)整入射角β;b.記錄由入射到受檢件(100)之中的超聲波脈沖產(chǎn)生的回波信號;c.確定入射位置X0,在該入射位置處可以記錄對應(yīng)于受檢件體積中的缺陷(102)的回波信號;d.確定缺陷(102)的ERS值在位置X0處變得最大的入射角β最大;e.將受檢件(100)表面上的入射位置從X0變?yōu)閄1,其中檢測入射位置的變化;f.以電子方式調(diào)整入射角β,以使得缺陷(102)的ERS值在改變后的入射位置X1處最大。本發(fā)明還涉及一種用來執(zhí)行該方法的裝置。
聲明:
“利用超聲波來無損檢測受檢件的方法以及執(zhí)行該方法的裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)