本發(fā)明涉及無損檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體公開了一種無損檢測裝置,其中,包括:直流磁化組件和熱成像組件,所述熱成像組件設(shè)置在被測試件的一側(cè),所述被測試件穿過所述磁化組件設(shè)置,所述直流磁化組件能夠?qū)λ霰粶y試件進(jìn)行磁化;所述熱成像組件能夠向所述被測試件的表面發(fā)射脈沖激光束,并采集所述被測試件的表面熱成像圖像,以及將所述表面熱成像圖像發(fā)送至上位機(jī),其中所述表面熱成像圖像能夠顯示所述直流磁化組件和所述熱成像組件共同作用下所述被測試件表面的溫度場分布。本發(fā)明還公開了一種無損檢測系統(tǒng)及方法。本發(fā)明提供的無損檢測裝置解決了常規(guī)漏磁檢測中的探頭磨損問題,且解決了常規(guī)紅外成像無法對試件內(nèi)部的探測的問題。
聲明:
“無損檢測裝置、系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)