本發(fā)明涉及無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域。本發(fā)明涉及一種用于無(wú)損檢測(cè)零件的內(nèi)部裝配缺陷的方法,所述方法至少包括以下步驟:a)根據(jù)被測(cè)零件的構(gòu)造確定出適于被測(cè)零件的用于計(jì)算機(jī)斷層掃描的至少一個(gè)掃描角度;b)利用計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備以所述至少一個(gè)掃描角度對(duì)所述被測(cè)零件執(zhí)行掃描,以獲得所述至少一個(gè)掃描角度中的各掃描角度下的斷層掃描圖像;以及c)根據(jù)所述斷層掃描圖像分析被測(cè)零件的內(nèi)部裝配狀態(tài),以確定是否存在內(nèi)部裝配缺陷。本發(fā)明的檢測(cè)方法具有廣泛的適用性和高度的準(zhǔn)確性,尤其能準(zhǔn)確地檢測(cè)出零件的內(nèi)部構(gòu)件、特別是密封圈是否裝配到位的問(wèn)題,滿足車企對(duì)零件質(zhì)量的管控需求。
聲明:
“用于無(wú)損檢測(cè)零件的內(nèi)部裝配缺陷的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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