本實用新型公開了一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的光纖漫透射式探頭,包括外殼、出射窗、入射窗、出射光線發(fā)出裝置、入射光纖束、第一反射鏡,其中出射窗、入射窗安裝在外殼的同一側(cè)且朝向同一方向,出射光線發(fā)出裝置將出射光傳導(dǎo)至出射窗進入到固體顆粒物,出射光經(jīng)過固體顆粒物形成的漫透射光經(jīng)入射窗進入即得到入射光線,入射光線經(jīng)第一反射鏡改變方向進入到入射光纖束導(dǎo)出。本實用新型對比現(xiàn)有的透射、漫反射檢測方式,這種漫透射式探頭省去了樣品池,不需要取樣、裝樣等操作過程,使用更加方便,檢測效率更高。
聲明:
“用于固體顆粒物光譜無損檢測的光纖漫透射式探頭” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)