本發(fā)明公開了一種珍珠珠層厚度的無損檢測方法，包括：利用X射線放射源逐一照射兩個(gè)待測物體，得到兩個(gè)初始圖像；依據(jù)像素點(diǎn)的灰度值，判斷一個(gè)像素點(diǎn)是否為邊界點(diǎn)，從而從初始圖像中識(shí)別出待測物體圖像的所有的邊界點(diǎn)；對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)球體，利用識(shí)別出的邊界點(diǎn)擬合成一個(gè)圓，并以該圓的半徑為標(biāo)準(zhǔn)球體圖像的半徑R0；對(duì)于待測珍珠，利用識(shí)別出的邊界點(diǎn)擬合成三個(gè)同心圓，其中，以位于中心的一個(gè)圓的半徑為珠核圖像的半徑R2，以位于最外側(cè)的一個(gè)圓的半徑為待測珍珠圖像的半徑R1；待測珍珠的半徑為r1=μR1，珠核的半徑為r2=μR2，則珠層厚度為r=r1-r2，其中，比例系數(shù)μ=r0／R0，r0為標(biāo)準(zhǔn)球體的半徑。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了珠層厚度的計(jì)算，測量結(jié)果更為準(zhǔn)確。