本發(fā)明公開了一種埋入結(jié)構(gòu)內(nèi)部金屬體參數(shù)的高分辨率無損檢測裝置，包括：信號發(fā)生模塊、功率放大模塊、發(fā)射線圈、磁電傳感器陣列、信號調(diào)理模塊、多通道數(shù)據(jù)采集模塊、FPGA處理與控制模塊以及上位機(jī)，發(fā)射線圈用于產(chǎn)生激勵磁場；磁電傳感器陣列用于接收二次感應(yīng)磁場信號；信號調(diào)理模塊用于處理磁電傳感器陣列輸出的信號；多通道數(shù)據(jù)采集模塊用于采集調(diào)理后的信號，經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號；FPGA處理與控制模塊用于控制發(fā)射波形產(chǎn)生、A/D采集和信號檢測；上位機(jī)使用算法對采集數(shù)據(jù)進(jìn)行反演計(jì)算，并實(shí)時顯示檢測結(jié)果。本發(fā)明使用磁電傳感器實(shí)現(xiàn)了對二次磁場信號的直接測量，可以獲得更高的信噪比，提升探測精度。