本發(fā)明公開(kāi)了一種基于剪切散斑干涉技術(shù)的復(fù)雜表面無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)及方法,包括光照模塊、剪切散斑測(cè)量模塊、控制及信號(hào)處理模塊;光照模塊發(fā)出出射光以照射在被測(cè)物體表面待檢測(cè)區(qū)域;剪切散斑測(cè)量模塊采集被測(cè)物體漫反射的光進(jìn)而形成剪切散斑干涉圖,并將剪切散斑干涉圖提供給控制及信號(hào)處理模塊,控制及信號(hào)處理模塊進(jìn)行處理并提取缺陷信息。
聲明:
“基于剪切散斑干涉技術(shù)的復(fù)雜表面無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)