本發(fā)明涉及一種巖石無(wú)損礦物成分檢測(cè)方法,步驟是:⑴樣品制備:待測(cè)巖柱表面研磨進(jìn)行巖石表面測(cè)試,對(duì)巖柱表面礦物成分的測(cè)定是采用電子探針;⑵巖石三維信息獲取:采用X射線顯微CT設(shè)備對(duì)巖柱進(jìn)行X射線顯微CT掃描并對(duì)X射線顯微CT數(shù)據(jù)進(jìn)行重建,形成三維圖像;⑶巖石內(nèi)部礦物成分分析:將電子探針?biāo)玫降臉悠繁砻婊叶葓D像與X射線顯微CT首層成像的灰度圖進(jìn)行對(duì)應(yīng),利用形貌相同及灰度相同來(lái)確定兩種實(shí)驗(yàn)測(cè)定的巖柱表面礦物成分;將X射線顯微CT首層圖像顯示的礦物灰度與內(nèi)部礦物的灰度做對(duì)應(yīng),即可確定巖石的內(nèi)部礦物成分。本發(fā)明由于采用上述技術(shù)方案,即獲得了樣品表面成分分析結(jié)果,又得到樣品三維內(nèi)部結(jié)果圖像,同時(shí)得出樣品內(nèi)部成分分析結(jié)果。
聲明:
“巖石無(wú)損礦物成分檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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