本發(fā)明公開了一種鐵基體上鎳鍍層的無(wú)損測(cè)厚方法,該方法是采用設(shè)置若干已知鐵基體上鎳鍍層厚度的試樣,通過(guò)將具有激勵(lì)線圈和檢測(cè)線圈的渦流傳感器對(duì)試樣的鍍有鎳鍍層一面的表面進(jìn)行檢測(cè),由激勵(lì)線圈發(fā)出激勵(lì)信號(hào),檢測(cè)線圈獲得的渦流感應(yīng)信號(hào)經(jīng)處理后得到鐵基體上鎳鍍層已知厚度相對(duì)應(yīng)的渦流檢測(cè)數(shù)據(jù),從而建立一個(gè)鐵基體上鎳鍍層的厚度模型,在實(shí)測(cè)中,借助于該模型,利用同樣的方式可以獲得被測(cè)鐵基體上鎳鍍層的厚度。該方法為無(wú)損檢測(cè),適用于對(duì)所有含鎳鍍層鐵基體的物件進(jìn)行鎳鍍層的厚度測(cè)量,具有檢測(cè)設(shè)備成本低、攜帶方便、操作簡(jiǎn)單、直觀、檢測(cè)速度快、可現(xiàn)場(chǎng)即時(shí)獲取檢測(cè)結(jié)果、測(cè)定結(jié)果準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。