本發(fā)明公開了一種適用于集成電路測(cè)試的測(cè)試向量無損壓縮方法,包括如下步驟:將測(cè)試向量集劃分為一個(gè)個(gè)游程分段,形成初始游程集;針對(duì)初始游程集中只包含確定位的游程的長(zhǎng)度值進(jìn)行聚類分析,獲得N個(gè)參考值;根據(jù)N個(gè)參考值和與無關(guān)位相鄰的確定位對(duì)無關(guān)位進(jìn)行賦值,形成游程集;根據(jù)參考值設(shè)計(jì)代碼字;將游程集中的游程與N個(gè)參考值分別作差,取絕對(duì)值最小的值作為相對(duì)游程,并根據(jù)代碼字的設(shè)計(jì)方式,完成對(duì)該游程的編碼,獲得相對(duì)游程編碼;依次完成游程集中所有游程的編碼,將獲取的參考值與相對(duì)游程編碼作為壓縮后的測(cè)試向量集存儲(chǔ)到測(cè)試設(shè)備中,以備完成具體的測(cè)試需求。本發(fā)明所公開的方法能夠獲得更好的壓縮效果,具有更廣泛的適用范圍。
聲明:
“適用于集成電路測(cè)試的測(cè)試向量無損壓縮方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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