本發(fā)明提供一種基于DIC的薄壁結(jié)構(gòu)屈曲強度無損探針測量方法,包括:在試件表面制作散斑;對試件進行軸壓試驗,并通過相機拍攝系統(tǒng)對試件進行圖像采集,獲取圖像信息;分析所述圖像信息,得到試件在軸壓試驗中的變形規(guī)律,并根據(jù)所述變形規(guī)律獲取初始缺陷位置;對試件施加軸向載荷,并通過探針在試件的初始缺陷位置施加徑向擾動;根據(jù)探針的最大壓力值與軸向載荷組成的數(shù)據(jù)進行二次擬合,預(yù)測試件的極限承載壓力。本發(fā)明實現(xiàn)了對薄壁圓柱殼的無損檢測,提高了對薄壁圓柱殼缺陷敏感性測量的準(zhǔn)確性,且避免了圓柱殼的損耗,節(jié)約了成本。
聲明:
“基于DIC的薄壁結(jié)構(gòu)屈曲強度無損探針測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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