提供一種用于冶金、無損測試的便攜、獨立的掃描儀設(shè)備(100),所述便攜、獨立的掃描儀設(shè)備(100)包括:底架(102),其具有在其較低表面之下延伸的輪子(108);可拆卸地固定到所述底架(102)上的無損測試探頭(118);和耦合到所述底架(102)上的計算機(jī)處理器設(shè)備(200)。所述計算機(jī)處理器設(shè)備(200)包括可以由所述計算機(jī)處理器設(shè)備(200)執(zhí)行的應(yīng)用程序,用于在測試對象(109)上執(zhí)行所述冶金無損測試。所述掃描儀設(shè)備(100)還包括顯示設(shè)備(216),所述顯示設(shè)備響應(yīng)于所述冶金、無損測試而顯示圖像。所述底架(102)、計算機(jī)處理器設(shè)備(200)和顯示設(shè)備作為單個單元沿所述測試對象(109)移動。
聲明:
“用于冶金、無損測試的便攜掃描儀設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)